AlGaN材料XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
衍射峰左右不对称是何原因?
衍射仪获得的衍射峰形(地说是衍射线的剖面，diffraction lineprofile)是不对称的，AlGaN材料XRD检测价格， 尤其是在低角度区(2θ < 30°)表现更为明显。峰型不对称是由多方面的因素造成的，主要是衍射仪光路的几何因素、仪器的调整状况以 及样品的吸收性质等。
为什么有的 XRD data 中，有(200)(400)面，而没有基本的(100)面数据?或者有 (220)而没有(110)?粉晶衍射不一定能出现所有的面网，很多物质的粉晶衍射都不一定出现(100)(110)，这 与结构有关。晶体衍射有个叫"消光"的现象，晶体的"消光规律"决定于它的结构的对称性，不同的空间群 其"消光规律"不同。如果应该出现的衍射而没有出现，那就是样品的择优取向引起的。再者(100)面的角度比较低，有时是没有扫到或淹没在低角度的背景中了。
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X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角 X 射线衍射图的特征完全不同。小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质 。
X-射线照射到样品上还会发生非相干散射，其强度分别也主要集中在在低角度范围，康普顿散射就属于此类，其结果是增加背景。
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(用 X 射线衍射仪)做 X 射线衍射时，一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 X 射线衍射的目的。比如：扫描速度，如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分)，如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件，狭缝越小分辨率越高，但强度就会减小，不宜快扫，这又要增加时间。
还要根据的样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描：测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒，如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪，40kV、40mA)。
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