对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
对比试样校准介绍
用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。
对比试样校准声速调节
超声波测厚仪的声速变了，标准试样/块校准哪家好，测量值就会变。例，在调节声速时，按一下“ENTER”键则声速快速地调整为5900M/S。在菜单中选择“声速”或“声速调整”，按住“CAL”或“校准”键两秒左右，声速就快速地调整为5900M/S，再按“ENTER”或“确认”键，就返回到测量状态。如果测量还存在误差，标准试样/块校准，测量仪器上的标准试块，液晶应该显示“4.0”或“4.00mm”，若是其数字，标准试样/块校准报价，则在一边测量试块一边按住“CAL”或“校准”键2秒左右，直到数字变成“4.0”或“4.00mm”，即完成了对仪器的校准，就可以准确无误地进行测量了。
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