对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
对比试样校准对人体有没有伤害?
如果是超声波测厚仪的话，对比试样/块校准机构，从原理来说，超声波没有辐射，它是一种振动机械波。但是人长期受到超声的影响，会引起人体组织轻微的发热;当频率更高时，发热就会越发厉害，使人体内水分子被烧，周围的组织遭到破坏，长时间如此就有危险。因此大功率高强度的超声波持续作用于人体是有害的。如果是源测厚仪，对比试样/块校准公司，0.5米就很危险了。而且值得一提的是，受辐射程度除和距离、受照射时间有关外，对比试样/块校准方案，和源的密封情况也有关系，密封不好受辐射程度就严重一些。所以在使用测厚仪工作时，对比试样/块校准，要采取适当的保护措施防止电磁辐射的污染。
对比试样校准使用注意事项
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
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