XRD摇摆曲线检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
5.自己使用仪器测试，测样前处理样品是否需要固体研磨时间？一份样品是否多测两次观察是否有较大差异？仪器是否有定期的矫正方法或者可以使用标准样品矫正？
答：一般情况下，处理样品不需要固体研磨时间，吉林XRD摇摆曲线检测，只要样品的粒度达到要求即可；同一样品没有必要多测两次观察是否有差异，因为X射线衍射仪短期内是不会出现测样误差的；X射线衍射仪有定期的矫正方法，具体到不同型号方法不同，XRD摇摆曲线检测价格，可以咨询应用工程师；也可以用标准物质进行矫正。
6.点光源和线光源测试的结果一致吗？
答：不一致，XRD摇摆曲线检测报告，两种光源的应用范围不同，线光源用于常规粉末的定性定量分析、薄膜的掠入射和反射率分析等；点光源常用于织构、应力、微区等分析。
7.块体样品在对峰时需要注意什么？
答：块体样品在对峰时需要注意的地方和粉末样品一样；在测试的时候需要注意块体的高度，如果过高的话，X射线会打到块体的侧面，影响实验结果。
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在做单晶X射线衍射（单晶XRD）测试时，此法用射线计数仪直接记录射线的强度。单晶衍射仪有线性衍射仪、四圆衍射仪和韦森堡衍射仪等，其中以四圆衍射仪，为通用。所谓四圆是指晶体和计数器藉以调节方位的四个圆，分别称为φ圆、圆、w圆和2θ圆。φ圆是安装晶体的测角头转动的圆；圆是支撑测角头的垂直圆，测角头可在此圆上运动；w圆是使圆绕垂直轴转动的圆，2θ圆与w圆共轴，计数器绕着这个轴转动。这四个圆中，w圆、φ圆和圆用于调节晶体的取向，使某一的晶面满足衍射条件，同时调节2θ圆，使衍射线进入计数器中。通常，四圆衍射仪配用电子计算机自动控制和记录，可以测定晶格参数，并将衍射点的强度数据依次自动收集，简化了实验过程，而且大大提高了数据的度。因此，它已成为当前晶体结构分析中强有力的工具。
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要确认是否为新相（新结构）由于晶体组成和衍射强度分布基本一致，就可以看出该样品其实具有文献报道的晶体结构。不能简单地因为衍射图中峰位与文献数据有偏移，就推断为新相。由于样品组成（形成一定范围的固溶体）和制备条件的不同、以及其它实验条件（衍射仪零点校正、样品偏心误差等）的不同，都能导致衍射峰位的偏移。如样品的晶胞参数与文献数据略有不同，就必然造成衍射峰的偏移。
所以，要确定是否为新相，除了要检索PDF卡片和有关晶体学数据库 （如无机晶体数据库ICSD等相关数据库）外，XRD摇摆曲线检测多少钱，也要查阅近年来有关的文献。这些文献上发表的晶体结构可能还没有收录到现在的数据库中。这一点应该引起重视。
总之，如果从样品组成、指标化结果、衍射图强度分布等看出自己样品的主相与以前测定过的结构基本相同，就不要轻易判断为新相。这样，按照以前报道的晶体结构来理解和处理就行了。
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