产品简介
SJ5700DUAL双向扫描型粗糙度轮廓测量仪器是大量程、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。该仪器X轴、Z轴采用独立运动系统，使用两轴联动运动控制算法，可实现X、Z双轴联动扫描，测量时测针在工件表面做仿形运动扫描（主动扫描），既保持了恒测力，又保证了大的陡坡通过能力，工件调平操作简单，同时避免了崩针、挂针等问题。
SJ5700DUAL双向扫描型粗糙度轮廓测量仪器可以全量程大范围连续扫描，拥有长达数百毫米的持续爬坡能力，非常适合大范围陡坡表面测量，大工件无需翻转、倾斜调整，就可实现轻松测量。
测量软件
螺纹模块
1.全自动检测圆柱螺纹工件、圆锥螺纹工件、工件内外孔径等各种内、外尺寸工件的综合参数，如作用中径、单一中径、基本中径、大径、小径、螺距、牙型角、牙型半角、牙侧直线度、螺纹升角、锥度等参数。自动生成被测螺纹的曲线图、相关参数数据和分析图表。也可以自定义螺纹标准尺寸公差。
2.可检测单头、多头螺纹的综合参数。
3.可检测梯形螺纹工件。
4.检测各种类国标及****工件，支持客户定制用户标准，可根据客户需求选配标准。
5.将所有测量记录进行集中式管理。
6.按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。
7.可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。
螺纹参数测量结果
轮廓模块
1.创建坐标：点线、两点 X、两线等工件坐标系。
2.量测工具：矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。
3.构建特征：交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。
4.可测几何量：点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。
5.形位公差：直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。
6.快速工具：坐标标准、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。
7.具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。
8.支持公差设置、合格判定。
9.支持、cnc .xml 共2种格式的轮廓对比，如标准轮廓中有标注，可自动计算出对应标注结果。
10.支持轮廓扫描数据的修改，包括删除异常点来进行分析。
11.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。
12.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。
13.将所有测量记录进行集中式管理。
14.按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。
15.可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。
16.可输出Word、PDF、Excel报表和TXT 、prf、dxf 文件。
17.支持CNC实时输出至excel 模版，可定制模版。
18.输出SPC分析报告，可输出统计值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制图（如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图）。
19.可以输出客户定义格式的Q-DAS文件。
产品应用
SJ5700DUAL双向扫描型粗糙度轮廓测量仪器可用于长轴类、筒类、曲面零件、丝杠、螺纹等高精度部件的内外径尺寸、内外轮廓形貌参数测量，非常适合航空、船舶、高铁、新能源汽车等行业。该产品支持量程定制，适用于各行业领域的实验室或工作现场使用。
产品优势
螺纹和轮廓一体化测量
1.双向螺纹流程化操作，配合螺纹夹具自动找到拐点，简单方便。
2.螺纹全自动识别测针、夹具，避免操作失误引起撞针等问题。
3.仪器在各个运动轴都有进行保护，能有效的保护仪器，降低人员操作失误带来的损伤。
4.智能恒测力接触，双向电子测力10-150mN任意可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。
5.组合调节控制手柄，可快速完成载物台平移、X轴和Z轴定位和测杆上下角度摆动及速度分多级调节功能。
6.软件支持的单侧、双侧、内外4侧轮廓的扫描及轮廓分析。
百毫米超大量程爬坡测量
1.大量程200/300/400mm行程可选，持续长达数百毫米爬坡下坡能力，爬坡可达78°，87°智能下坡，非常适合大范围陡坡表面测量，大工件无需翻转、倾斜，可以避免测针磕碰损伤。
2.Z轴运动设计，X、Z双轴联动扫描，具有恒测力和大陡坡通过能力。
3.采用高精度导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。
4.高性能伺服电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。
5.通过简单的标定操作，能对仪器参数和测针磨损进行补偿修正，使其满足高精度测量。
自动、批量、快速测量
1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量。
对于复杂的工件，可以工件的任意位置进行分段测量，并做成轮廓模板便于批量测量。
2、CNC固定坐标系模式下，可快速**地进行轮廓批量测量，自动分析处理数据。
3.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。
部分技术指标
| 型号 | SJ5700DUAL | ||
| 参数 | 测量范围 | X轴 | 0~235mm（全程光栅） |
| Z轴 | 0~235mm（全程光栅） | ||
| 扫描速度 | 0.1～2mm/s | ||
| 爬坡能力 | 上坡78º，下坡87 º | ||
| Y向工作台 | 移动范围25mm，工作台整体高度85mm（可选自动台） | ||
| 螺纹测量 | 螺纹测量范围 | 内螺纹：M3~M200，外螺纹：M3~M200（根据配置选择范围） | |
| 轮廓测量 | 直径测量范围 | 内：Φ3~Φ200，外：Φ3~Φ200（根据配置选择范围） | |
表面质量测量 | 粗糙度测量参数 | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P轮廓参数： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波纹度轮廓参数： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合标准： GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994， JIS B 0601-1982，ISO 1302:2002。 | |
| Ra测量范围 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围） | ||
| 仪器尺寸 | 1200×500×980mm | ||
| 仪器重量 | 100kg | ||
恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。
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