特性1：OTS-近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。
这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。
OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。
搭配Probe card测试适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm，测试工装批发，平坦度土1u（不锈钢或镀金）X，测试工装供应商，Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm，测试工装，微调升降16mm，微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8～12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质：花岗岩台面 不锈钢可搭配Probe card测试
量测软体:I-V /C-V Curve， Pmax， Imax， Vmax， RS， Fill Factor，测试工装哪里有，Power Convert Efficiency采用KEITHLEY Source Meter可加配任意品牌之太阳光模拟器探针测试台x-y工作台的分类纵观国内外的自动探针测试台在功能及组成上大同小异，即主要由x-y向工作台，可编程承片台、探卡/探卡支架、打点器、探边器、操作手柄等组成，并配有与测试仪（TESTER）相连的通讯接口。
但如果按其x-y工作台结构的不同可为两大类，即：以美国EG公司为代表的平面电机型x-y工作台（又叫磁性气浮工作台）自动探针测试台和以日本及欧洲国家生产的采用精密滚珠丝杠副和直线导轨结构的x-y工作台型自动探针测试台。
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