小型电子高温老化房由温度传感器采集老化房内的温度，然后把它传给控制仪，控制仪把它和内部设计值进行比较运算继而根据偏差值输出控制量来调节可控硅导通角的变化
随着电子技术的发展，电子产品集成化程度也越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制作工艺越来越繁杂。这样在制造的过程中难免会产生潜伏的缺陷。对于一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有着较高的稳定性。为了保证出厂产品能合格，且经得起时间的损耗和考验，就有了电子高温老化房试验设备的存在。
小型电子高温老化房由温度传感器采集老化房内的温度，然后把它传给控制仪，控制仪把它和内部设计值进行比较运算继而根据偏差值输出控制量来调节可控硅导通角的变化，也就是控制负载电流的变化从而以密闭环的控制形式达到自动控温的目的。
另外控制仪还设置了温度上线跳闸保护这样当控制仪失灵的时候可以起到双重保护功能的。控制仪通过标准的串行通讯接口与远程计算机相连。后台计算机可调用控制仪的现场数据可进行控制仪内部数据设定并且可以打印实时温度曲线。
电子高温老化房设计制作的原理：
在老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变质的元器件尽可能把电子产品早期失效也就是无法正常使用之前发现。这种为提高电子产品的使用寿命，对稳定性进行必要的考核，剔除那些有着早逝缺陷的潜在个体（个别的元器件，电子产品等）。来确保整机的品质和期望的使用寿命的工艺就是高温老化的原理。
小型电子高温老化房设计制作参数参考：
1.温度范围：常温－85℃
2.老化房外形尺寸（约）：7800mm*6800mm*2200mm(长×宽×高)
3.升温速度：2.0～4.0℃/min（环境温度+25℃）
4.温度均匀度：±5℃以内（空载）
5.温度波动度：±1℃（空载）
6.温控精度：0.01℃
7.运行方式：整机具备温度周期定时功能，即产品工作过程中环境温度可分段控制，在不同时间段内可设置不同温度，所有时间段加起来为一个周期，周期可以循环运行
8.时间设定：0～999(小时、分钟、秒可自由设定)
9.安装电源：AC~380V(正负10%)；50 Hz
10.噪音大小：≦75分贝（*运行）
11.预留电源、信号线输入输出接口（具体位置尺寸以现场情况而定）
12.总额定功率：约38KW
四、参照标准及验收方式：
本设备参照国家环境试验设备技术规范精工制造，有效模拟气候环境对产品的适应性试验。具体参照标准和国家环境试验方法标准如下。
《电工电子产品环境试验》GB/T2423.2-2008
《低压配电设计规范》GB50054-95
《供配电设计规范》GB50052-95
《电气装置安装工程接地装置施工及验收规范》GB50169-92
《建筑材料燃烧性能分级》
《通风与空调工程施工质量验收规范》GB50243-2002
《GB/T5170.2-1996 温度试验设备》
