微量污染物分析服务场景：
需要了解不明物质（粉体、颗粒等）是什么
产品表面出现斑点、异物、析出物等，需要寻找根源，解决问题
想了解产品纯度，材质是什么
需要了解某些物质的成分组成、元素、离子等含量
研发实力不足，或研发进度较慢
微量污染物分析手段：
傅立叶变换显微红外光谱分析（FTIR）
红外显微镜
显微共焦拉曼光谱仪（Raman）
扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）
X射线荧光光谱分析（XRF）
气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）
裂解气相色谱-质谱联用（PGC-MS）
核磁共振分析（NMR）
俄歇电子能谱分析（AES）
X射线光电子能谱分析（XPS）
X射线衍射仪（XRD）
微量污染物检测材质：
各类高分子材料
建筑助剂、纺织印染助剂
表面处理、电镀添加剂
脱模剂、造纸助剂
表面活性剂
生物医药
清洗剂
XPS只是对物质表层进行分析（2-10 nm），且厚度不如EDX，也无法进行可视化操作。
XPS广泛使用的原因主要有以下几点：
⑴可测除H、He以外的所有元素。检测灵敏度约为0.1 at%。
⑵亚单层灵敏度；探测深度1～10nm，依赖材料和实验参数。
⑶可元素定量分析。
⑷优异的化学信息，化学位移和卫星结构与完整的标准化合物数据库的联合使用。
⑸分析是非结构破坏的；X射线束损伤通常微不足道。
⑹详细的电子结构和某些几何信息。
XPS元素分析适合分析材料:
金属、高分子等材料，薄膜，涂层等
XPS元素分析应用领域：
半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等
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