在电子器件和电路中，临界电流噪声是一个很重要的问题，因为它会对电路的性能和稳定性产生影响。临界电流噪声可以来源于多个方面，例如器件内部的电荷和电流抖动、杂散的热噪声、晶格振动等。
电子器件内部的电荷和电流抖动是临界电流噪声的主要来源之一。当电子通过器件时，由于其运动速度的不确定性，会导致电荷和电流的不稳定性。这种不稳定性会以噪声的形式表现出来，并对电路的性能产生影响。临界电流附近的电荷和电流抖动会导致器件的传输特性发生变化，从而引入附加的噪声信号。
杂散的热噪声也是临界电流噪声的一个重要来源。热噪声是由于电子在导体中的热运动引起的，它会导致电流的涨落和电势的波动。当电流接近临界值时，热噪声的影响会更加显著，因为此时器件的传输特性会发生剧烈变化，从而引入更多的热噪声。
晶格振动也可以对临界电流噪声产生影响。晶格振动是指固体中原子或离子的振动现象，它会通过影响电子的运动而引起噪声。当电流接近临界值时，晶格振动的强度会增大，进而导致临界电流噪声的增加。
为了减小临界电流噪声，可以采取一些措施。可以优化器件的结构和材料，以降低电荷和电流抖动的产生。可以通过降低器件的工作温度来减小热噪声的影响。在电路设计中，可以采用抗噪声技术，例如使用抗噪声电源、合理布局电路等，来减小临界电流噪声的干扰。