国标标准:GB/T 6624《硅抛光片表面质量目测检验方法》

国标标准:GB/T 6624《硅抛光片表面质量目测检验方法》

发布商家
深圳市中拓检测有限公司
联系人
罗卓文(先生)
职位
检测工程师
电话
17324413130
手机
17324413130
测试周期
5-7天
寄样地址
深圳宝安
价格费用
电话详谈
标准号 Standard No.中文标准名称 Standard Title in Chinese英文标准名称 Standard Title in English状态 State备注 Remark
GB/T 6624-1995硅抛光片表面质量目测检验方法Standard method for measuring the surfacequality of polished silicon slices by visual inspection废止1995-12-01实施,代替GB 6624-1986,2010-06-01废止,被GB/T 6624-2009代替
GB/T 6624-2009硅抛光片表面质量目测检验方法Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection现行2010-06-01实施,代替GB/T 6624-1995

本标准规定了在一定光照条件下,用目测检验单晶抛光片(以下简称抛光片)表面质量的方法。本标准适用于硅抛光片表面质量检验。外延片表面质量目测检验也可参考本方法进行。

标准全文查看/下载

 http://c./bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=F0364B45636359411C53DCD5F4084EE6

人气
60
发布时间
2023-11-25 02:36
所属行业
检测认证
编号
40375083
我公司的其他供应信息
相关抛光片产品
拨打电话 请卖家联系我