控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试
代测服务：控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试
1．简化手机存储器的设计。eMMC是当前最红的移动设备本地存储解决方案，目的在于简化手机存储器的设计，由于NAND Flash芯片的不同厂牌，所以都需要根据每家公司的产品和技术特性来重新设计，而过去并没有技术能够通用所有厂牌的NAND Flash芯片。
2．更新速度快。每次NAND Flash制程技术改朝换代，包括70纳米演进至50纳米，再演进至40纳米或30纳米制程技术，手机客户也都要重新设计，但半导体产品每1年制程技术都会推陈出新，存储器问题也拖累手机新机种推出的速度，因此像eMMC这种把所有存储器和管理NAND Flash的控制芯片都包在1颗MCP上的概念，随着不断地发展逐渐流行在市场中。
3．加速产品研发速度。eMMC的设计概念，就是为了简化手机内存储器的使用，将NAND Flash芯片和控制芯片设计成1颗MCP芯片，手机客户只需要采购eMMC芯片，放进新手机中，不需处理其它繁复的NAND Flash兼容性和管理问题，最大优点是缩短新产品的上市周期和研发成本，加速产品的推陈出新速度。
发展趋势 eMMC规格的标准逐渐从eMMC4.3时代发展到eMMC4.4时代，eMMC4.5已经问世，2013年7月29日三星开始量产行业首款eMMC 5.0存储产品 。未来其它像更进一步的MCP产品也会把Mobile RAM一起融入，因此要打赢嵌式内存之战，还要看各家内存资源和技术的齐全度。
但以台系内存模块厂而言，还在寻找商机的切入点，除非找到愿意全面支持的内存大厂，否则未来可能只能做大陆点山寨手机市场。
检测项目：控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试
高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。
