PCIE接口性能测试
使用Sigtest软件进行波形参数分析，并生产测试报告，判断结果
嵌入封装影响后，用示波器采集封装影响后的波形文件（数据信号），直接采集时钟信号，分别存储成独立的文件（一个时钟信号文件，一个数据信号文件），未来提高存储速度，建议存为.bin或.wfm等二进制格式的文件。然后，把文件导入到SigTest分析工具里进行后分析处理，如下图所示。
数据类型（Data Type)选择：Dual Port Differential。
输入正确的采样间隔（50GSa/s采样率对应为20ps, 40GSa/s采样率对应为25ps）。
选择正确的模板文件：PCIE_3_8GB_DUAL_PORT_MULTI_CTLE_DFE.
