DDR测试,抖动测试,时序测试,高速电路板测试

DDR测试,抖动测试,时序测试,高速电路板测试

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DDR测试,抖动测试,时序测试,高速电路板测试


channel > DIMM > rank > chip > bank > row/column
channel (对应多个DDR控制器)> DIMM(内存插槽) > rank(一次访问位宽决定,也成物理bank) > chip(1个chip大多是4bit/8bit/16bit等,组成一个rank,配合完成一次访问的位宽要求。这就是颗粒) > bank(颗粒里的logic-bank,DDR3一般对应8个bank存储体) > row/column
DDR页和行的概念理解
DDR logic bank的row就是行,对应行地址选中等。
DDR页的概念,是针对刷新或者访问来说的,举例,一个rank可能有4个chip组成,一个chip里可能有8个bank,每一个bank有N个行。页指的是一个rank里每个chip,所有bank的一个行地址;注意不是一行,是多行,行数是chip数目*bank数目。
所以,DDR页,可以讲为一个rank里每个chip的行地址
(ps:在一个rank里,每个chip的地址是相同的。因为多个chip组成一个总数据位宽。DDR接口的cs信号,虽然叫chip select,其实是rank(一组chip)的 select)。
DDR页的概念,后续会讲到页命中、页miss等,跟cache page原理一样。
SDRAM开始是时钟下降沿采样,数据传输速率和频率是1:1关系,即一个周期可传输1bit数据;


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发布时间
2023-12-21 02:55
所属行业
电子产品检测
编号
40941748
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