DLIA工业缺陷微观瑕疵检测系统配套的AI光学筛选一体机,配置高清高速显微成像系统,具备多组光源,适应多种产品外观缺陷检测;使用了动态聚焦与飞拍技术,能以极高速度进行采样与分析,从而实现对大多数半导体、电子制造、精密制造产品的外观瑕疵检测;配合后台的数据统计系统,能对检测产品的不良信息进行存档和统计分析,为制程优化提供依据。
DLIA工业缺陷微观瑕疵检测系统配套的AI光学筛选一体机,配置高清高速显微成像系统,具备多组光源,适应多种产品外观缺陷检测;使用了动态聚焦与飞拍技术,能以极高速度进行采样与分析,从而实现对大多数半导体、电子制造、精密制造产品的外观瑕疵检测;配合后台的数据统计系统,能对检测产品的不良信息进行存档和统计分析,为制程优化提供依据。