STO1400光耦测试仪
陕西天士立科技生产的STO1400光耦测试仪，可测试各类光耦参数，如单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，线性光耦、高速光耦，等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO”、“输入正向压降VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”、“电流传输比 CTR”、“输出导通压降 VCE(sat)”“开关时间toff/ton”等。陕西天士立科技。
一、光耦测试仪·产品信息
产品型号：STO1400
产品名称：光耦测试仪；
制造厂家：陕西天士立科技有限公司
通联编号：Phone-029-8822-5591-Mr.Wang
主机尺寸：深305*宽280*高120(mm)
主机重量：＜5Kg
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续。
二、光耦测试仪·产品介绍
STO1400光耦测试仪是一款布局紧凑、功能全面、界面友好、操作简洁的单机测试仪器。专为各类光耦参数测试而设计开发，可测试各类单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，高速光耦，线性光耦等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO”、“输入正向压降 VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”、“电流传输比 CTR”、“输出导通压降 VCE(sat)”“开关时间”......可测具体参数数值也可以进行筛选性测试，既合格/不合格(OK/NO)。
STO1400光耦测试仪产品前面板设有“显示屏区域”“操作按键区域”“接口区域”。基于飞思卡尔 16 位单片机编程的操作程序包含测试程序编辑、程序调用、数据保存、功能类型等常规设置。10 档位分档设计，耐压测试电压 1400V/可扩展，测试正向压降和输出电流可达 1A/可扩展
三、光耦测试仪·应用场景
1、测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试，主要功能为曲线追踪仪）
2、失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）
3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
6、替代进口（STO1400光耦测试仪可替代同级别进口产品）
四、光耦测试仪·产品特点
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方便简单.
※ 大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
※ 全部可编程的DUT恒流源和电压源.
※ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
※ 高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1400V.
※ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题.
※ 软件自校准功能
※ 自动模式:自动检测有无DUT放于测试座中,有则自动处于重复测试状态,无则处于重复检测状态.
※ 手动模式：刚开始未测试时屏幕白屏属正常现象，当测试开关按下后才自动对测试座中的DUT进行检测测试，长按开关不松开则处于重复测试状态,松开开关则自动停止测试。
※ 基于大规模微处理器设备,当用户选定了设置好的型号时,在手动测试时,按下测试开关,使测试机开始执行功能检测,自动测试过程将在STO1400的测试座上检测DUT短路,开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试.功能测试主要保护DUT不被因型号选错而测坏元件，
※ DUT的功能测试通过过,LCD显示出DUT的引脚排列(P_XXX),
※ 测试方式(手动/自动)并继续进行循环测试,显示测试结果是否合格,并有声光提示.
※ 在测试时,能自动识别引脚功能,并自动转换矩阵开关进行参数测试.测试后显示对应引脚功能号
五、光耦测试仪·测试种类及参数
5.1、可测试的光耦类型
分类方式 | 具体分类 |
光路径 | 外光路光耦（透过型和反射型） 内光路光耦 |
输出形式 | 光敏器件输出型光耦 NPN三极管输出型光耦 达林顿三极管输出型光耦 逻辑门电路输出型光耦（门电路输出型，施密特触发输出型，三态门电路输出型等） 低导通输出型光耦 光开关输出型光耦 功率输出型光耦（IGBT/MOSFET等输出）。 |
传输信号 | 数字光耦（OC门输出型，图腾柱输出型及三态门电路输出型等） 线性光耦（可分为低漂移型，高线性型，宽带型，单电源型，双电源型等）。 |
开关速度 | 低速光耦（光敏三极管、光电池等输出型） 高速光耦（光敏二极管带信号处理电路或者光敏集成电路输出型） |
不同通道 | 单通道光耦 双通道光耦 多通道光耦 |
隔离特性 | 普通隔离光耦 高压隔离光耦 |
工作电压 | 低电源电压型光耦 高电源电压型光耦 |
封装形式 | 同轴型 双列直插型 TO封装型 扁平封装型 贴片封装型 光纤传输型 |
5.2、引脚定义
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极
5.3、测试参数
(1) 正向电压 VF
(2) 正向电流 IF
(3) 击穿电压 VR
(4) 反向电流 IR
(5) 输出低电平电源电流 ICCL
(6) 输出高电平电源电流 ICCH
(7) 使能端高电平电压 VEH
(8) 使能端低电平电压 VEL
(9) 使能端高电平流 IEH
(10) 使能端低电平流 IEL
(11) 输出端高电平电压 VOH
(12) 输出端低电平电压 VOL
(13) 输出端高电平电流 IOH
(14) 输出端低电平电流流 IOL
(15) 电流传输比 CTR
(16) 输出上升时间 Tr
(17) 输出下降时间 Tf
(18) 上升传输延迟时间 tpLH
(19) 下降传输延迟时间 tpHL
5.4、参数定义
(1) VF：IF: 光耦输入正向VF压降时的测试电流.
(2) Vce:Bv:光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.
(3) Vce:Ir: 光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.
(4) CTR:IF:光耦传输比时输入端的测试电流。
(5) CTR:Vce:光耦传输比时输出端的测试电压。
(6) Vsat:IF:光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
(7) Vsat:Ic:光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
六、光耦测试仪·技术规格
低配版·STO1400光耦测试仪
耐压 BVCEO/BVECO | 测试范围0-1400V 分辨率1V 精度<2%+2RD 测试条件0-2mA |
输入正向压降 VF | 测试范围0-2V 分辨率2mV 精度<1%+2RD 测试条件0-1000mA |
输出端反向漏电流 ICEO | 测试范围0-2000uA 分辨率1UA 精度<5% +5RD 测试条件BVCE=25V |
反向漏电流 IR | 测试范围0-2000uA 分辨率1UA 精度<5% +5RD 测试条件VR=0-20V |
电流传输比 CTR | 测试范围0-9999 分辨率1% 精度1% +5RD 测试条件BVCE：0-20V 测试条件IF：0-100mA |
输出导通压降 VCE(sat) | 测试范围0-2.000V 分辨率2mV 精度1% +5RD 测试条件IC：0-1.000A 测试条件IF：0-1.000A |
高配版·STO1400光耦测试仪
序号 | 参数名称 | 符号 | 测试范围 | 分辨率和精度要求 |
1 | 正向电压 | VF | 0～20V | 量程±100V、±1000V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度 |
2 | 正向电流 | IF | 0～60mA | 量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
3 | 击穿电压 | VR | -20V～0 | 量程±1000V的分辨率和精度 |
4 | 反向电流 | IR | -10mA～0 | 量程±40mA ±4mA、±400μA、±40μA 、±4μA的分辨率和精度 |
5 | 输出低电平电源电流 | ICCL | 0～5A | 量程 ±4，±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
6 | 输出高电平电源电流 | ICCH | 0～5A | 量程±4A,±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
7 | 使能端高电平电压 | VEH | 0～20V | 量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度 |
8 | 使能端低电平电压 | VEL | 0～20V | 量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度 |
9 | 使能端高电平流 | IEH | 0～10mA | 量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
| 使能端低电平流 | IEL | 0～10mA | 量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
陕西天士立科技有限公司研发生产的STO1400光耦测试仪，可测试各类光耦，如单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，高速光耦，线性光耦等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO”、“输入正向压降VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”、“电流传输比 CTR”、“输出导通压降 VCE(sat)”“开关时间toff/ton”等陕西天士立科技有限公司。