广东X-射线光电子能谱检测材料表面成分

广东X-射线光电子能谱检测材料表面成分

表面分析实验室配备有世界先进水平的表面分析仪器，可为数据存储、半导体，光电子器件、纳米科技等高科技企业提供综合性的表面分析服务，以满足其亚微米级分辨率、痕量表面灵敏度、微区样品加工和薄膜分析的要求。

分析技术手段

俄歇纳米探针系统

飞行时间二次离子质谱仪

X-射线光电子能谱仪

纳米压痕仪

扫描电子显微镜

超级扫描电子显微镜

能量色散谱仪

透射电子显微镜

原子力显微镜

聚焦离子束

精细研磨设备

服务范围

材料表征和表面成份分析, 纳米级到微米级

界面扩散分析

表面腐蚀分析

表面搀杂改性分析

失效分析

表面形貌分析

薄膜分析

表面污染物分析

镀层厚度和成份分析

检测材料表面成分的方法

检测材料表面成分是材料科学领域的一个重要分支，它涉及到一系列精密的分析技术，用于确定材料表面的元素组成、化学状态以及分子结构。以下是几种常用的检测方法：

X射线能量色散谱法（EDX）

X射线能量色散谱法（EDX）是一种常与电子显微镜配合使用的分析方法，它可以测量电子与试样相互作用所产生的特征X射线的波长与强度，从而对微小区域所含元素进行定性或定量分析。每种元素都有一个特定波长的特征X射线与之相对应，它不随入射电子的能量而变化，测量电子激发试样所产生的特征X射线波长的种类，即可确定试样中所存在元素的种类。元素的含量与该元素产生的特征X射线强度成正比，据此可以测定元素的含量。

电子能谱分析法

电子能谱分析法是采用单色光源或电子束去照射样品，使样品中电子受到激发而发射出来，然后测量这些电子的强度与能量的分布，从而获得材料信息。电子能谱的采样深度仅为几纳米，所以它仅仅是表面成分的反应。

X射线衍射法（XRD）

X射线衍射法（XRD）也可以辅助用来进行物相的定量分析。它的依据是，物相的衍射线强度随着含量的增加而提高。但是并不成正比，需要加以修正，采用Jade程序就可以对物相进行定量分析。

质谱法（MS）

质谱法（MS）是将被测物质离子化，按离子的质荷比分离，测量各种离子谱峰的强度而实现分析目的的一种分析方法。质量是物质的固有特征之一，不同的物质有不同的质量谱（简称质谱），利用这一性质，可以进行定性分析；谱峰强度也与它代表的化合物含量有关，可以用于定量分析。

分光光度计法

分光光度计法采用一个可以产生多个波长的光源，通过系列分光装置，从而产生特定波长的光源，光线透过测试的样品后，部分光线被吸收，计算样品的吸光值，从而转化成样品的浓度，吸光值与样品的浓度成正比。它包括可见分光光度计和紫外分光光度计。

火花直读光谱仪

火花直读光谱仪用电火花的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的光谱，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并打印出各元素的百分含量。

扫描电子显微镜（SEM）

扫描电子显微镜（SEM）通过电子束扫描样品表面，获取高分辨率图像并进行元素分析。它适用于材料表面特性分析、缺陷分析、微观结构研究等。

透射电子显微镜（TEM）

透射电子显微镜（TEM）通过透射电子束对薄样品进行成像，分析其微观结构。它适用于纳米材料研究、晶体结构分析等。