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单板信号完整性测试
2023-12-18 02:26  浏览:29
单板信号完整性测试

信号完整性(Signal Integrity,SI)包括由于互联、电源、器件等   引起的所有信号质量及延迟等问题。信号完整性问题和很多因素有关,频率提高、上升时间减小、摆幅降低、互连通道不理想、供电环境恶劣、通道之间延迟不一致都可能导致信号完整性问题。若究其根源,主要是信号上升时间减小了。上升时间越小,信号中包含的高频成分就越多,高频分量和通道间相互作用就可能使信号产生严重的畸变。

电路时钟频率提高,要求信号上升时间缩短,客观上导致信号完整性问题更加严重。

给出一个简单的板级SI设计流程:

(1)普查单板中有哪些关键信号及各个信号的性质

(2)识别并确定容易出现问题的信号

(3)确定改进信号质量的方向

(4)了解IO BUFFER的特点

(5)SI前仿真确定总体设计方案

(6)PCB布局总线

(7)SI仿真进行问题评估

(8)调整设计方案及设计参数,进一步仿真优化

要求我们必须了解信号的性质,关键点在于分清是“电平”有效信号还是“边沿”有效信号。对于电平有效信号(如地址数据等)我们关注的是时间窗口的宽度,可以容忍适度的幅度噪声,边沿是否单调不是关注的重点。而对于边沿有效信号(时钟或其他触发信号等)我们关注的是边沿的单调性,高低电平处的噪声不是关注的重点。当然幅度噪声也不能太大,以免损坏器件。


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