大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项
幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求： ·测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否； ·一个多级故障自动保险互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全； ·如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室； ·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。
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在膜厚测定中的能谱表示：由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单，资料处理的速度快。
充实测量报告的作成机能：采用WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。
测定物膜厚附著分布表示：以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布，OPTM设备，作判定时一目了然。
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1.膜厚测试仪出现下列情况，OPTM反射率测试，必需重新校准。 ·校准时，输入了一个错误值； ·操作错误。 2.在直接方式下，OPTM，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。 3.每一组单元中，只能有一个校准值。 4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。
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