大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，rets-100轴角测试，故其可维持其高精度的测定及稳定的性能。
因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。万一，rets-100设备，下记条件未被满足的场合，rets，本系统的性能有可能无法发挥其.请注意。
相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)最适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，rets预倾角测试，展现任一个波长的高精度相位差量测。
光学薄膜
?相位差膜、椭圆膜、相位差板
?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、别的光学资料
■液晶层
?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性液晶)
?反射型液晶层(TN，STN)
本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN，IPS，MVA）的Gap以及Pre-tilt角。
本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型Ｘ－Ｙ平台以及偏光光学系，测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角（含ＭＶＡ）的系统。通过多折射位相差（RE.）来计算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，测定精度高。
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