头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高i精度绝i对反射率（多层膜厚度，OPTM优点，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量项目：
绝i对反射率测量
多层膜解析
光学常数分析（n：折射率，OPTM膜厚仪，k：消光系数）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
硬涂层膜厚度的测量[FE-0004]
近年来，OPTM光学膜测试，使用具有各种功能的高i性能薄膜的产品被广泛使用，并且根据应用不同，还需要提供具有诸如摩擦阻力，抗冲击性，耐热性，薄膜表面的耐化学性等性能的保护薄膜。通常保护膜层是使用形成的硬涂层（HC）膜，但是根据HC膜的厚度不同，可能出现不起保护膜的作用，OPTM，膜中发生翘曲，或者外观不均匀和变形等不良。 因此，管理HC层的膜厚值很有必要。
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件
OPTM光学膜测试-苏州大塚电子公司-OPTM由大塚电子(苏州）有限公司提供。大塚电子(苏州）有限公司（www.otsukael.com.cn）有实力，信誉好，在江苏 苏州 的机械加工等行业积累了大批忠诚的客户。公司精益求精的工作态度和不断的完善创新理念将促进大塚电子和您携手步入，共创美好未来！
