XRD物相分析单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,XRD物相分析联系方式,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,广东XRD物相分析,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,XRD物相分析费用多少,以及行业应用技术开发。
便携式XRD分析仪
XRD产品实践
映SHINE便携式X射线衍射仪是苏州浪声科学仪器有限公司结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术,自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息(材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息),具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点,XRD物相分析哪里有,是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD物相分析
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物相定性分析中追求数据吻合程度时,
(1)d值比I/I1值更重要,更优先。因为d测试精度高,重现性好;而强度受纯度(影响分辨率)、结晶度(影响峰形)样品细微度(同Q值时吸收不同),辐射源波长(同d值,角因子不同)、样品制备方法(有无择优取向等)、测试方法(照相法或衍射仪法)等因素影响,不易固定。
(2)低角度衍射线比高角度线重要。对不同晶体而言低角度线不易重迭,而高角度线易重迭或被干扰。
(3)强线比弱线重要。尤其要重视强度较大的大d值线。
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薄膜测试xrd怎么计算x射线入射的深度
谢勒公式D=kλ/FWHM cosθ计算
D:晶粒尺寸(不叫离子尺寸的)
k:0.89
λ:XRD测试的x射线的波长,一般分kα1和kα2,具体用那种需要问测试老师。
FWHM:半高宽
θ:衍射角
具体方法:选定强的衍射峰,测量其衍射角和半高宽(可用jade读取),然后带入公式计算即可。
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