半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
没有它的粉晶射线图，但是有根据其单晶 X 射线衍射推算出来的晶胞参数，请问我怎么才能反推算出该晶体的粉晶衍射图？
如果你有结构数据，半导体薄膜服务，就可以从理论上算出粉末衍射图的，可以使用 Materials Studio 的 reflex plus 模块算出来；有原子坐标，通过 diamond 也可以得到它的粉末 XRD 图。
如何分析出其晶体结构而确定是我们预期的物质呢？
如果能够在 ICDD 的粉末衍射数据库中找到你预期的物质的衍射据，做一个 XRD 鉴定即可确定。
用 Jade5 软件可以进行 XRD 定量分析吗?
XRD 定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据（原理上应该用峰的面积数据），余下的工作便是些乘除比例的运算了，使用表格软件（如 WPS Ofice 的"WPS 表格"、微软的 Excel）完成甚为方便。因此，使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行 XRD定量分析，当然，有 Jade 软件更为方便。
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做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？
XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，半导体薄膜机构，晶胞形状和大小等)有力的方法。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
因此，通过样品的 X 射线衍射图与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD 还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，宁夏回族自治半导体薄膜，应用面十分普遍、广泛。
目前 XRD 主要适用于无机物，半导体薄膜哪家好，对于有机物应用较少。
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XRD进行定性分析时可以得到哪些有用信息？
A. 根据XRD谱图信息，可以确定样品是无定型还是晶体：无定型样品为大包峰，没有精细谱峰结构；晶体则有丰富的谱线特征。把样品中峰的强度和标准物质的进行对比，可以定性知道样品的结晶度。B. 通过与标准谱图进行对比，可以知道所测样品由哪些物相组成（XRD主要的用途之一）。基本原理：晶态物质组成元素或基团如果不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度以及衍射峰形上会显现出差异（基于布拉格方程，后面会详细解析）。C. 通过实测样品和标准谱图2θ值的差别，可以定性分析晶胞是否膨胀或者收缩的问题，因为XRD的峰位置可以确定晶胞的大小和形状。
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