CT检测方案 北京纳克公司 CT检测

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视频作者:钢研纳克检测技术股份有限公司





CT检测X射线管发出的X射线能谱

低能射线部分其实并不能很好地穿透材料,或是根本不能。反而,低能射线会引起“射线硬化”而极大地损害图像质量。这一现象在扫描较“重”或是厚度较大的材料是尤为严重。为了除去射线中的低能部分,会在工件之前放置射线过滤片。过滤片的作用是阻挡低能射线,但同时会降低图像的亮度。如果X射线管不能提供足够的功率,那就不得不牺牲图像的亮度或是忍受较高的图像噪声,从而降低扫描质量。这样的话高功率射线管带来的好处就显而易见了,高品味的X射线可以通过过滤来获得,同时又不降低图像亮度,CT检测价格,从而保证了能够得到较高的扫描质量。




CT检测应用闪烁体的分立探测器的主要优点

应用闪烁体的分立探测器的主要优点是:闪烁体在射线方向上的深度可以不受限制,从而使射入的大部分光子被俘获,提高探测效率。尤其在高能条件下,可以缩短获取时间;因为闪烁体是独立的,所以几乎没有光学的窜扰;同时闪烁体之间还有钨或其他重金属隔片,降低了X射线的窜扰。分立探测器的读出速度很快,在微秒量级。同时可以用输出脉冲来选通数据采集,限度减小信号上叠加的噪声。分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。



CT检测射线源

在高能电子束转换为X射线的过程中,仅有小部分能量转换为X射线,CT检测,大部分能量都转换成了热,焦点尺寸越小,CT检测报价,阳极靶上局部功率密度越大,局部温度也越高。实际应用的功率是以阳极靶可以长期工作所能耐受的功率密度确定的。因此,小焦点乃至微焦点的的射线源的使用功率或大电压都要比大焦点的射线源低。电子辐射发生器的共同缺点是X射线能谱的多色性,这种连续能谱的X 射线会引起衰减过程中的能谱硬化,导致各种与硬化相关的伪像。



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发布时间
2022-10-31 02:07
所属行业
探伤仪
编号
30712418
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