XRD薄膜检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
1.当一个谱图中出现多个物相时，怎么区分出来？如果有部分峰找不到对应的物相怎么解释？
可以用软件直接区分。找不到物相有两个原因，一是数据库不够新，XRD薄膜检测机构，这种物质在数据库里面没有，需要用更新的数据库来搜索；二是合成了新物质，现在还没有收录到数据库里面，所以定性找不到对应物质。
2.长程有序是指什么啊？
长程有序就是在特定方向按照一定顺序一直排列下去，XRD薄膜检测平台，叫做长程有序，可以理解成射线或者直线的意思，整齐划一的感觉。
3.为避免测试条件的影响，是不是要对比的样品应该同一批送样测试呢？
是的，需要对比的样品尽量同一批次送样测试，可以消除外在影响。
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关于XRD图谱
1）衍射线宽化的原因
用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化、试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。
2）半高宽、样品宽化和仪器宽化
样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示，样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW（I）和样品性质（晶块尺寸细化和微观应力存在）加宽FW（S）的卷积。为了求得样品加宽FW（S），必须建立一个仪器加宽FW（I）与衍射角θ之间的关系，也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同，标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等。
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样品的挑选：
宏观特征：应该是透明，没有裂痕，表面干净，有光泽。（不是所有晶体都是透明的，但是好的晶体样品一定是没有裂痕的且没有明显的突出和凹陷，因为裂痕处会产生晶格错位，影响测试结构的准确性）
形貌特征：晶体样品如果是圆球状，那么这个晶粒样品很可能是非晶态，在测试过程中无法出现衍射图谱。晶体样品如果是树枝状活簇状晶体，XRD薄膜检测服务，尽量不要在这些上切割一个晶粒，好选择单一的一粒，因为切割会影响测试结果。
其他特征：晶体样品一般不溶于水，吉林XRD薄膜检测，一般溶于水的样品都是无机盐。
样品的大小：
光源所带的准直器的内径决定了X射线强度一致区域的大小，晶体的尺寸一般不能超过准直器的内径（常用的为0.5-0.6mm）。（我们要求是大于50微米）
晶体合适的尺寸是：纯有机物0.3-0.7mm，金属配合物或金属有机物0.15-0.5mm，纯无机物0.1-0.3mm。
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