山东锂电XRD检测 半导体XRD薄膜测试

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锂电XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。


X射线发生器

X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。这里着重介绍X射线管。X射线管的实质是个真空二极管,其阴极是钨丝,阳极为金属片。

在阴极两端加上电流之后,钨丝发热,产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速,轰击阳极(又称靶),产生X射线(此过程产生大量热量,为了保护靶材,必须确保循环水系统工作正常)。

常见的阳极靶材有:Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Mo,山东锂电XRD检测, Ag, W,常用的是Cu靶。




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在做单晶X射线衍射(单晶XRD)测试时,此法用射线计数仪直接记录射线的强度。单晶衍射仪有线性衍射仪、四圆衍射仪和韦森堡衍射仪等,其中以四圆衍射仪,为通用。所谓四圆是指晶体和计数器藉以调节方位的四个圆,分别称为φ圆、圆、w圆和2θ圆。φ圆是安装晶体的测角头转动的圆;圆是支撑测角头的垂直圆,测角头可在此圆上运动;w圆是使圆绕垂直轴转动的圆,2θ圆与w圆共轴,计数器绕着这个轴转动。这四个圆中,w圆、φ圆和圆用于调节晶体的取向,使某一的晶面满足衍射条件,同时调节2θ圆,锂电XRD检测哪里可以做,使衍射线进入计数器中。通常,四圆衍射仪配用电子计算机自动控制和记录,可以测定晶格参数,并将衍射点的强度数据依次自动收集,简化了实验过程,而且大大提高了数据的度。因此,它已成为当前晶体结构分析中强有力的工具。



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晶粒大小的计算

衍射粉末晶粒大小的计算主要是以衍射图谱的半宽高为依据来进行相关计算。如果把衍射峰简单地看作是一个三角形,那么峰的面积等于峰高乘以一半高处的宽度。这个半高处的高度有个专门名词,称为“半高宽”,英文写法是FWHM。

样品的晶粒比常规的晶粒小或晶粒内部存在微观的应变均会引起FWHM变宽,锂电XRD检测费用多少,导致结果存在误差。所以在使用jade计算时,不同的粉末状态对应不同的计算方法,应根据粉末的实际情况选择相应的宽化因素。



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2022-12-13 06:46
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