对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，对比试样/块校准公司，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
对比试样校准脉冲涡流应用前景
脉冲涡流应用此项技术在不停机不拆保温层情况下进行检测，对比试样/块校准方案，能为业主节约了宝贵的生产时间。应用传统方法检测需要拆除保温，这将花费大量的人力物力，更要耗费大量时间，主要的是检测需要在停机或者停厂条件下进行，而停止生产进行检测是业主不愿意看到的情况，因为这样会给业主带来大量的经济损失。因此，不停机不拆保温层情况下利用脉冲涡流对压力容器、压力管道进行测厚的检测检测方法有着广阔的应用前景。
对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗，用滤纸擦干，保持表面清洁，北京对比试样/块校准，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定)，调整试样，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换至高放大倍数对试样聚焦，调整载物台及试样，对比试样/块校准哪家好，使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备，使测量面聚焦清晰，选择测量点位。
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