大功率XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
衍射峰左右不对称是何原因?
衍射仪获得的衍射峰形(地说是衍射线的剖面，diffraction lineprofile)是不对称的， 尤其是在低角度区(2θ < 30°)表现更为明显。峰型不对称是由多方面的因素造成的，主要是衍射仪光路的几何因素、仪器的调整状况以 及样品的吸收性质等。
为什么有的 XRD data 中，有(200)(400)面，而没有基本的(100)面数据?或者有 (220)而没有(110)?粉晶衍射不一定能出现所有的面网，很多物质的粉晶衍射都不一定出现(100)(110)，这 与结构有关。晶体衍射有个叫"消光"的现象，晶体的"消光规律"决定于它的结构的对称性，不同的空间群 其"消光规律"不同。如果应该出现的衍射而没有出现，大功率XRD检测哪里可以做，那就是样品的择优取向引起的。再者(100)面的角度比较低，有时是没有扫到或淹没在低角度的背景中了。
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收集 XRD 应注意些什么?(比如收集角度泛围、速度等有什么要求？
衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法， 检测器的灵敏度等等。
衍射强度变弱本质的原因是由于晶体颗粒变小，还是样品颗粒变小？
强度除了和晶粒度有关外，还和晶粒的表面状态有关。一般颗粒越细，大功率XRD检测分析，其表面积越大，表面层结构的缺陷总是比较严重的。结构缺陷将导致衍射强度降低和衍射峰宽化。XRD 研究的应该是晶粒、晶体的问题，大功率XRD检测实验室，与晶体结构关联的问题，不是样品颗粒的大小问题，谢乐公式算的 应该也是晶粒的大小。样品颗粒的大小要用别的方法测定.，例如光散射、X 射线散射、电镜等。
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已经知道晶体的晶格常数、晶系以及各衍射峰的 hkl 值，请问如何确定其空间群，有没有相应的软件？
有了这些就可以用Shelx来解晶体了，台湾大功率XRD检测，空间群自然也就能确定了。可以用国际晶体学手册， 利用你的已知数据便可查的。未知物质的空间群是根据统计消光规律来得到的，终的结果还要用结构测定的结果来确定，统计消光规律来推测空间群的软件有 XPREP，wingx 等。
具体可以如下操作：衍射数据当作P1空间群处理然后利用Pattern 程序生成 Psudo-Precession然后根据系统消光规律推导出晶体的劳埃对称性。不是所有的时候都可以直接给出终的空间群。好在解完结构之后，利用结构解析程序产生的FCF文件再重新核对一遍。
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