XRD掠入射（GIXRD）检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
平行光路还有一种比较重要的应用是通过测试反射率(XRR)分析薄膜的厚度、密度以及薄膜表面界面的粗糙度等信息，这种测试不需要薄膜是外延的，XRD掠入射（GIXRD）检测测试，甚至是有机薄膜也可以测试，XRD掠入射（GIXRD）检测报告，重要的是样品面要足够平整。
单晶结构解析
还有一点需要说明的是，现在有不少人在做单晶方面的研究，好不容易培养出来一个小晶体，XRD掠入射（GIXRD）检测价格，也听说可以通过XRD测试结果对晶体结构进行解析，于是拿着晶体兴匆匆去常规粉末或薄膜XRD的实验室，要求老师给他解结构。其实他们是把四圆单晶衍射仪和常规的粉末或薄膜XRD仪器搞混了。对于高分辨薄膜XRD虽然也能对部分单晶进行测试，但是也于对晶体品质（晶体结晶质量）进行分析，对于结构解析是无能为力的。如果有晶体结构解析的需要，就选择四圆单晶衍射仪进行相关的实验。
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8.紧凑尤拉环测薄膜样品对薄膜样品尺寸的要求是什么呢
答：根据具体的尤拉环样品台的尺寸进行调整。
9.样品填充小尺寸是多少呢，有的样品槽很大？
答：装样品的时候没有小尺寸这种说法。如果样品量少，样品槽很大，尽量把样品装在样品槽的中心位置。
10.不同批次送样的是否会产生误差？（步长角度一样）是否要对比的样品同一批次送样好？
答：会有产生误差的可能。选择同一台仪器，并排除制样时的误差，如果两批样品送样间隔较长，或者两批样品中间恰好X射线衍射仪进行了维护，那么这两批测出来的结果会存在差别。建议需要做比较的一组样品，好在同一时间送样测试，这样才具有可比性。
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什么样的样品适合生长单晶？分子结构角度考虑：
刚性化合物比柔性的更容易，链超过4 个碳的一般难以培养单晶；
从晶体学家角度考虑，分子中好不含叔丁基，因为容易无序，影响单晶解析的质量，但是从化学角度考虑，叔丁基可增加溶解度，所以也经常使用。和根等也存在类似的问题；
更换取代基有时会有理想的效果。如 4－取代化合物比取代化合物往往容易长单晶。
外观角度判断培养前景：
旋蒸或简单重结晶所得样品，如果光泽很好 (不是贴在烧瓶内壁的一层薄膜刮下来之后产生的光泽)，广东XRD掠入射（GIXRD）检测，在显微镜下观察，如果是块状，有规则外形，则容易生长；
油状物很难长出单晶，经过进一步提纯后再去培养。
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