XRD薄膜检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
5.精修的时候Size是怎么知道的？
答：通过单晶衍射仪，晶体在衍射环中的大小来预估的。
6.checkcif报告算是一个确认解析正确无误的可信依据吗？没有错误在里面就行吗？
答：对的，广东XRD薄膜检测，没有严重的A和B类错误，是可以发表的。
7.如果解出来的结构有disorder作图的时候就是那样全部保留着作图 ，还是删掉低占有率的，然后再作图啊？还有这个diamond出的图感觉清晰度好像也不是那么清楚，XRD薄膜检测平台， 怎么把出图的清晰度调高一些啊？
答：结构中有无序disorder时，XRD薄膜检测哪里可以做，把占有率低的一半原子删掉，保留占有率高的一半。在Diamond软件里有个Picture，选Layout，里面有可以调图片大小和分辨率的。
8.合成出2到3mm大小的单晶，这个尺寸适合拿来单晶测试吗？
答：这个尺寸大了，理想尺寸是0.3-0.5mm。但是过大的尺寸，我们可以通过刀来进行切割后再测试。
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薄膜分析中常用的X射线方法有：
粉末衍射仪和薄膜衍射仪
现在，分辨率较高的粉末衍射仪已经可以应用于薄膜的分析在多晶粉末衍射仪上添加薄膜附件用于做薄膜的测试即可。例如，日本理学公司用弯曲多层膜全反射和多重晶单色器组合开发出了薄膜衍射仪。从这类衍射仪得到的数据可以提取薄膜的相结构、晶格大小、晶粒尺寸、择优去向等信息。
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研究薄膜结构的方法多种多样，如TEM、SEM、电子探针、电子衍射、离子衍射、X射线衍射和衍射等等。在这些方法中，X射线衍射比较好。由于X射线的本质使X射线方法对厚度从原子尺度至几十微米的薄膜是灵敏的。所以，不论对于单晶膜、多晶膜还是非晶膜，X射线方法以其具有非破坏性、迅速、和制样简单的优点获得青睐。
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