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CT检测分立探测器
工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。
而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。
气体探测器具有天然的准直特性,限制了散射线的影响,几乎没有窜扰,且器件一致性好。
缺点是探测效率不易提高,射线检测机构,高能应用有一定限制。
其次探测单元间隔为数毫米,对于有些应用显得太大。
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CT检测
图像增强器是一种传统的面探测器,是一种真空器件。
名义上的像素尺寸<100μm,直径152~457mm(6~18in)。
读出速度可达15~30 帧/s,是读出速度快的面探测器。
由于图像增强过程中的统计涨落产生的固有噪声,射线检测报价,图像质量比较差,一般射线照相灵敏度仅为7~8%,在应用计算机进行数据叠加的情况下,射线照相灵敏度可以提高到2%以上。
缺点就是易碎和有图像扭曲。
面探测器的基本优点是不言而喻的—它有着比线探测器高得多的射线利用率。
面探测器也比较适合用于三维直接成像。
所有面探测器由于结构上的原因都有共同的缺点,即射线探测效率低、无法限制散射和窜扰、动态范围小等。
高能范围应用效果较差。
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CT检测发展
三代CT是单射线源,具有大扇角、宽明束、全包容被检断面的扫描方式。
对应宽扇束有几个探测器,保证一次分度取得八个投影计数和1值,被检物仅作M个分度旋转运动。
第三代CT运动单一、好控制、,理论上被检物只需旋转一周即可检测一个断面。
四代CT也是一种大扇角全包容、只有旋转运动的扫描方式,由相当多的探测器形成固定圆环,仅由辐射源转动实现扫描。
其特点是扫描速度快、成本高,仅在CT上使用,河北射线检测,在工业CT中一般不采用。
五代CT是一种多源多探测器,射线检测方案,用于实时检测与生产控制系统,其辐射源与探测器按120°分布,工件与辐射源到探测器间不作相对转动,仅有管子沿轴向的快速分层运动。
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